Heiß begehrtes FIB-SEM Elektronenmikroskop bei IWG

Wir wollen unser FIB-SEM Elektronenmikroskop nicht mehr missen. Die Möglichkeiten zur Analyse sind so vielfältig und erlauben uns die unterschiedlichsten Anwendungen.

Die kombinierten Eigenschaften des präzisen und schnellen Plasma-Schneidens und der feldfreien UHR-REM-Bildgebung machen das TESCAN AMBER X zur ersten Wahl für die Charakterisierung von Materialien in großen (bis zu 1 mm breiten) FIB-Querschnitte.

„Dieses Tool kann so viel!“

… dass wir immer lernen können und dürfen. Deshalb wurden vergangene Woche nicht nur unsere Mitarbeiter geschult, sondern auch Gäste von der TU und BOKU Wien, die einen Meteoriten als Versuchsobjekt mitbrachten. Joerg Wissler, Applikationswissenschafter von Tescan wechselte für eine Woche seinen Arbeitsplatz. Das Interesse, das unser Rasterelektronenmikroskop weckt, freut uns besonders. Wenn Wissenschaftler Uni und Lehrsaal gegen einen Platz am FIB-SEM Elektronenmikroskop bei IWG tauschen, zeigt es uns einmal mehr wie einzigartig unser Mikroskop ist.